Post-Silicon Validation of Static Lockstep Mode
文章介绍了基于激光故障注入的，在英特尔® 至强® 6 处理器 E-Core 架构上静态 Lockstep 模式的 post-silicon 验证。实验结果表明，该 lockstep 功能能够有效缓解潜在的静默错误，最高可达100%。文章还提供了关于公司、联系方式、新闻、投资者关系、职业发展等方面的链接。
英特尔® 至强® 6 处理器 E-Core 架构上静态 Lockstep 模式的 Post-Silicon 验证
我们展示了基于激光故障注入的英特尔新型核心 lockstep 功能的 post-silicon 验证。我们的实验数据表明，lockstep 能够缓解高达 100% 的原本会是静默的错误。
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